DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座

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定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座

DFN6pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：1.1*0.7mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN6pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

DFN6pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：6Ghz

芯片测试电流：100mA

芯片测试温度：-45°~+125°，测试时长：72小时

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

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测试座结构：翻盖式
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芯片封装形式：QFN
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3.5*3.5mm
老化座接触介质：探针
老炼夹具结构：翻盖式
老化测试座材料：PEI

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芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.45mm
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接触介质：探针
芯片老化座结构：翻盖式
芯片测试座材料：PEI

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