DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

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定制DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

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定制DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

DFN8pin芯片无磁测试座规格参数：
适用芯片封装形式：DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，适用封装：DFN8/USON8/QFN8/WSON8等传感器芯片测试

DFN8pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：3A

芯片测试温度：-55°~+125°，温度循环每小时两次

芯片测试电压：5V

芯片测试频率：1Ghz以内

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：要求零部件为无磁性

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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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