定制DFN8pin下压合金探针测试座

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定制DFN8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座

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定制DFN8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座

DFN8pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.65mm
适用芯片尺寸：3*3mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.65mm-3x3mm下压合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN8pin芯片老化、测试、烧录—手自一体测试

芯片测试频率：2Ghz

芯片测试插损：1db

芯片测试温度：-45°~+85°

测试座结构：下压式

测试座材料：合金

DFN测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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