LCC68pin-1.27mm-24.13x24.13mm翻盖探针芯片测试座

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定制LCC68pin-1.27mm-24.13x24.13mm翻盖探针芯片测试座

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定制LCC68pin-1.27mm-24.13x24.13mm翻盖探针芯片测试座

LCC68pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：68pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：24.13*24.13mm

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC68pin-1.27mm-24.13x24.13mm翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用LCC68pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

LCC68pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：满足单pin1nA到10uA

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试温度：-40°~+135°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

IC测试夹具

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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