LGA14pin翻盖合金探针测试座

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LGA14pin翻盖合金探针测试座

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LGA14pin翻盖合金探针测试座

LGA14pin测试座规格
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：2.5×3mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的LGA14-0.5_2.5×3翻盖合金探针测试座

LGA芯片测试座，LGA老化座，LGA烧录座

适用于苹果设备芯片测试，老化测试，编程烧录

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

制作方式：加工定制

LGA14pin探针测试座

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接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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