定制QFN128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

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定制QFN128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

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定制QFN128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座

QFN128pin芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：14×14mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN128pin-0.4mm-14x14mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片测试座、QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座

QFN128pin芯片测试条件要求：

芯片测试电流：单pin电流：1A

测试芯片信号：1Ghz

芯片测试温度：常温

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

IC测试座

芯片测试座

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QFN128pin探针测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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