定制QFN16pin芯片翻盖合金探针测试架

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定制QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架

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定制QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架

QFN16pin芯片测试架规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：4×4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款QFN芯片测试架适用于芯片测试、烧录、老化

产品简介：

芯片测试频率：1000Mhz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：常温

芯片测试架结构：翻盖式

芯片测试架材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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