定制QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座

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定制QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座

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定制QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座

QFN22pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：22pin
芯片引脚间距：0.86mm
适配芯片尺寸：7*7mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN22pin-0.86mm-7x7mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN22pin适用芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN芯片测试座产品简介：

QFN射频芯片测试

芯片测试电流：1A，

芯片测试频率：其中有两pin需要过15Ghz

芯片测试阻抗：50毫欧

芯片测试插损：1db

芯片测试回损：-20db

IC测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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