定制QFN24pin芯片翻盖探针老化座

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定制QFN24pin-0.5mm（3.5×5.5mm）翻盖探针老化座

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定制QFN24pin-0.5mm（3.5×5.5mm）翻盖探针老化座

QFN芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：3.5×5.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的定制的QFN24pin-0.5mm（3.5×5.5mm）翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款探针老化座适用于QFN24pin芯片烧录、老化、测试用

产品测试简介：

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：1000Mhz

芯片老化测试温度：-55°~150°

老化测试座结构：翻盖式-探针结构

老化座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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