定制QFN32pin合金旋钮翻盖探针测试座

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定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座

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定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：5*5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品介绍：

该款QFN32pin芯片测试座适用于芯片烧录、老化以及功能性测试

芯片测试条件要求：

芯片测试频率：15Ghz

芯片测试电流：500mA

芯片测试插损：1db

芯片测试毁损：1.3db

测试座结构：旋钮翻盖式

测试座材料：合金

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测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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