定制QFN32pin下压合金探针测试座

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定制QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座

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定制QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座

QFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.4mm
适用芯片尺寸：4*4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的定制QFN32pin-0.4mm-4x4mm下压合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

适用测试环境：老化/测试/烧录，QFN32pin芯片功能性测试

芯片测试电流：15Ghz

芯片测试电流：500mA

需接地pin脚：18根

芯片测试插损：1db

芯片测试回损：1.3db

测试座结构：下压式手自一体

测试座材料：合金

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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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