定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

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定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

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定制QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座

QFN62pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：62pin
芯片引脚间距：支持0.4mm-0.425mm-0.45mm
芯片尺寸：12×12mm
芯片厚度：0.75mm

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产品详情

深圳鸿怡电子生产定制的QFN62pin-0.4mm-0.425mm-0.45mm-12x12x0.75mm合金翻盖探针老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片测试座、QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座

QFN62pin芯片老化测试条件要求：

芯片测试频率：200Mhz

芯片测试电流：1A

芯片老化测试温度：130°，持续时长：500小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片老化座材料：合金

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QFN芯片老化座

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QFN62pin芯片老化座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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