QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

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定制QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

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定制QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

QFN64pin芯片手自一体测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：10*10mm
适配芯片厚度：1mm
适用芯片ATE自动化测试、手动测试

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN64pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试电流：300mA

芯片测试温度：-40°~150°

芯片测试座结构：旋钮双扣、适用芯片ATE自动化测试、手动测试

芯片测试座材料：合金

芯片自动化测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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接触介质：探针
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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