定制QFN84pin合金翻盖测试座

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定制QFN84pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖测试座

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定制QFN84pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖测试座

QFN84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：7*7mm
芯片厚度：0.8mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN84pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用测试环境：烧录、测试、老化

产品简介;

有射频信号测试需求

芯片测试频率：2.7Ghz

芯片测试电流：1A

芯片测试插损：1db

芯片测试回损：-15db

测试温度：常温

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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