定制QFN88pin探针老化测试座

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定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

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定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

QFN88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN88pin芯片测试、老化、烧录用

产品介绍：

芯片测试频率：150Mhz

芯片老化测试温度：-40°~+125°，老化持续时长：1000小时

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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