探测插针器件40PIN翻盖合金探针测试座

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定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座

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定制探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座

探测器件40pin测试座socket规格参数：
器件引脚：40pin
器件引脚间距：1.27mm
器件尺寸：22×22mm
接地：3pin

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产品详情

鸿怡电子生产定制的探测插针器件40PIN-1.27mm-22x22mm翻盖合金探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

器件测试频率：100Mhz

器件测试电流：200ma

器件测试湿度：0~80%RH

器件测试温度：-40°~+60°

该款探测器件测试座要求需要开天窗

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

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器件测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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