鸿怡电子生产定制的TSOP56pin-0.5mm-18.4x16.2mm翻盖探针芯片老化座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用TSOP56pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
TSOP56pin芯片老化座产品简介:
芯片老化测试温度:+180°,持续加电老化时长:800小时
芯片测试电流:800mA
芯片测试频率:1Ghz
芯片老化测试座结构:翻盖式
芯片老化座材料:合金