定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座

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定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座

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定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座

邮票孔85pin探针测试座规格参数
模块引脚：85pin
引脚间距：1.27mm
外形尺寸：44.98×32.79mm
厚度：2.2mm

订购热线：13631538587

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产品详情

定制邮票孔85PIN-1.27mm-1.02x0.4mm合金翻盖探针测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

邮票孔测试座、模块测试座

邮票孔85pin测试条件要求：

测试频率：200Mhz

测试电流：1A

测试温度：常温

测试座结构：翻盖式

测试座材料：合金

IC测试座

邮票孔探针测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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