鸿怡电子生产定制的DDR200ball-0.8pin-10x15mm手机芯片测试治具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用DDR200ball/BGApin手机芯片测试环境:老化、测试、烧录
DDRball内存颗粒测试治具产品简介:
芯片测试速率:4000Mbps
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试温度:-45°~+145°
手机BGA芯片测试治具结构:旋钮翻盖式
芯片测试治具材料:合金