HMILU-DDR96pin-0.8mm-7.5x13mm合金翻盖双工位测试治具—内存颗粒测试架

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HMILU-DDR96pin-0.8mm-7.5x13mm合金翻盖双工位测试治具—内存颗粒测试架

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HMILU-DDR96pin-0.8mm-7.5x13mm合金翻盖双工位测试治具—内存颗粒测试架

DDR96ball内存颗粒测试治具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DDR/BGA
芯片引脚：96pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：7.5*13mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-DDR96pin-0.8mm-7.5x13mm合金翻盖双工位测试治具—内存颗粒测试架的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用BGA96ball芯片测试环境：老化、测试、烧录

DDR96ball内存颗粒测试治具产品简介：

内存颗粒测试电流：1A以内

内存颗粒测试频率：600Mhz

高低温测试温度范围：-55°~+155°

DDR内存颗粒测试治具结构：翻盖式一拖双工位

内存测试治具材料：合金

DDR内存颗粒测试治具

DDR内存颗粒测试夹具

DDR测试治具

IC测试架

DDR测试架

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芯片封装形式;BGA
芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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