适用于DFN12pin芯片测试环境:老炼、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试
DFN12pin芯片测试夹具产品简介:
芯片测试电流:单pin过流1A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试夹具材料:PEI