HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座

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HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座

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HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座

DFN14pin芯片老化测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：4.5*3mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN14pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能测试、芯片导通测试、芯片可靠性测试。

DFN14pin芯片老化测试socket产品简介：

芯片测试电流：单pin电流1A

芯片测试工作温度：-45°~+145°，持续工作时长：2000小时

芯片老化座结构：翻盖式

芯片老炼夹具材料：合金

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DFN芯片测试座

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芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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