HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座

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HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座

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HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座

DFN48pin芯片测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：7*7mm

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于DFN48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片功能测试、芯片性能测试

DFN48pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：单pin过流1A以内

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试夹具结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

IC测试座

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DFN芯片测试座

芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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