HMILU-DFN6pin-1.3mm-3x3mm合金翻盖探针测试座socket

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HMILU-DFN6pin-1.3mm-3x3mm合金翻盖探针测试座socket

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HMILU-DFN6pin-1.3mm-3x3mm合金翻盖探针测试座socket

DFN6pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：1.3mm
适配芯片尺寸：3*3mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-DFN6pin-1.3mm-3x3mm合金翻盖探针测试座socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用DFN6pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持ATE自动化测试

DFN6pin芯片测试socket产品简介：

芯片测试电流：1A以内

芯片测试阻抗：阻抗小于120毫欧

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试夹具结构：翻盖式

芯片测试座材料：合金

IC测试座

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DFN芯片测试socket

DFN芯片测试夹具

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芯片引脚间距：0.8mm
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测试座结构：翻盖式
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适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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