鸿怡电子生产定制的HMILU-DFN8pin-1.27mm-5×6mm合金翻盖探针芯片测试座socket的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用于DFN8pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片可靠性测试、芯片性能测试、芯片功能测试
DFN8pin芯片测试座socket产品简介:
芯片测试信号频率:不超过3Mhz
芯片测试电流:不超过0.3mA
芯片测试温度:-55°~+85°
芯片测试座结构:翻盖式探针
芯片测试夹具材料:合金