鸿怡电子HMILU生产定制的BGA113pin-0.7mm-5.55x9.0mm合金翻盖芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用BGA113pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试
BGA113pin芯片测试座socket产品简介:
芯片测试频率:150Mhz
芯片测试电流:1A以内
芯片测试电压:2.5V
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试夹具材料:合金