鸿怡电子HMILU生产定制的QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFN64pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试,
QFN64pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:1.5Ghz
芯片测试电流:500mA
芯片测试插损:1db
芯片测试温度:-40°~+135°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试夹具材料:合金