适用SOT23-8L芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
SOT23-8L芯片测试座socket产品简介:
芯片测试电流:单pin过流小于1A以内
芯片测试频率不做要求
芯片测试温度:-45°~+135°,持续老化测试工作时长:1000小时
芯片测试座结构:分离式压合
芯片测试夹具材料:PEEK+蓝宝石