鸿怡电子HMILU生产定制的WLCSP73pin-0.4-3.84×4.1合金翻盖式射频芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用WLCSP73pin射频芯片测试环境:老化、测试、烧录,芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试
WLCSP73pin射频芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:单pin需要过1A
芯片测试电压:3.5V
芯片测试电流:800mA
射频芯片测试插损:1db
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试夹具材料:合金