HMILU-LGA4pin-0.5mm-1.0825X1.1475mm塑胶翻盖弹针芯片老化测试座

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HMILU-LGA4pin-0.5mm-1.0825X1.1475mm塑胶翻盖弹针芯片老化测试座

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HMILU-LGA4pin-0.5mm-1.0825X1.1475mm塑胶翻盖弹针芯片老化测试座

LGA4pin芯片老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：4pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：1.1*1.15mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-LGA4pin-0.5mm-1.0825X1.1475mm塑胶翻盖弹针芯片老化测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于LGA4pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LGA4pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试频率：单pin过2.5Ghz

芯片测试电流：1A以内

芯片测试阻抗：50mΩ

芯片老化测试温度：-55°~+155°

IC老化座

IC老炼夹具

LGA芯片老化测试socket

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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