鸿怡电子生产定制的QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFN24pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能行测试
QFN24pin芯片测试夹具产品简介:
芯片工作速率:不小于200Mhz
芯片测试温度:-45°~+135°
芯片测试座寿命:不小于2万小时(120°工作条件下)
芯片测试电流:800mA
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试夹具材料:合金