鸿怡电子HMILU品牌生产定制的QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用QFN28pin芯片老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试
QFN28pin芯片测试夹具产品简介:
芯片测试电流:2.5A
芯片测试频率:500Mhz
芯片测试功耗:3.5W
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座socket材料:合金