HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座

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HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座

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HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座

QFN28pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子HMILU品牌生产定制的QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用QFN28pin芯片老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

QFN28pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：2.5A

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试功耗：3.5W

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座socket材料：合金

IC测试座

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芯片测试座

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芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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