HMILU-QFN32pin-0.4mm-4X4mm翻盖探针芯片测试座

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HMILU-QFN32pin-0.4mm-4X4mm翻盖探针芯片测试座

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HMILU-QFN32pin-0.4mm-4X4mm翻盖探针芯片测试座

QFN32pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：4*4mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-QFN32pin-0.4mm-4X4mm翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFN32pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

QFN32pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试频率：700Mhz

芯片测试功耗：小于1W

芯片测试电流：300mA

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：PEI

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芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.2mm
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芯片封装形式：QFP
芯片引脚：176pin
芯片引脚间距：0.4mm
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