HMILU-QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座

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HMILU-QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座

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HMILU-QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座

QFN40pin芯片老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

深圳鸿怡电子生产定制的QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于QFN40pin芯片测试环境：老练、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试，芯片HAST/HTOL测试

QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介：

芯片HAST测试：需要多次试验

芯片老炼测试温度：+125°

芯片测试湿度：85%

芯片HAST测试时长：180小时/轮

芯片老炼座结构：翻盖式

芯片老化测试座夹具材料：PEI

IC老炼座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：1.0mm
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接触介质：弹片
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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