深圳鸿怡电子生产定制的QFN40pin-0.4mm-5x5mm翻盖探针芯片老炼座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFN40pin芯片测试环境:老练、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片性能测试,芯片HAST/HTOL测试
QFN40pin芯片老化测试夹具产品简介:
芯片HAST测试:需要多次试验
芯片老炼测试温度:+125°
芯片测试湿度:85%
芯片HAST测试时长:180小时/轮
芯片老炼座结构:翻盖式
芯片老化测试座夹具材料:PEI