HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座

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HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座

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HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座

QFN64pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：9*9mm

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用QFN64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

QFN64pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：单pin过流1A以内

芯片测试频率：500Mhz

芯片测试功耗：10W

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

IC测试座

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QFN芯片测试socket

芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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