HMILU-QFP176pin-0.4mm-22X22mm合金旋钮翻盖探针芯片老炼夹具

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HMILU-QFP176pin-0.4mm-22X22mm合金旋钮翻盖探针芯片老炼夹具

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HMILU-QFP176pin-0.4mm-22X22mm合金旋钮翻盖探针芯片老炼夹具

QFP176pin芯片老炼测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：176pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：22*22mm

订购热线：13631538587

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产品详情

深圳鸿怡电子生产定制的QFP176pin-0.4mm-22X22mm合金旋钮翻盖探针芯片老炼夹具_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用QFP176pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

QFP176pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试频率：300Mhz

芯片测试功耗：5V

芯片测试电流：500mA

芯片老化测试温度：-45°~+155°

芯片老炼测试夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：合金

QFP芯片老化测试socket

QFP芯片老化测试夹具

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芯片引脚：16pin
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芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.2mm
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芯片封装形式：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片本体尺寸：10*10mm
含引脚尺寸：12*12mm

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