HMILU-QFP64pin-0.5mm-12x12mm塑胶旋扭翻盖探针老化测试座+接地

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HMILU-QFP64pin-0.5mm-12x12mm塑胶旋扭翻盖探针老化测试座+接地

QFP64pin芯片老化测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：12*12mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-QFP64pin-0.5mm-12x12mm塑胶旋扭翻盖探针老化测试座+接地的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于QFP64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST测试

QFP64pin芯片老化测试socket产品简介：

芯片测试电流：单pin过流1A以内

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试温度：HAST测试：+135°，相对湿度：85%

芯片老化测试夹具结构：旋钮翻盖式

芯片老化座材料：PEI

IC老化座

IC老炼夹具

芯片老化座

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芯片引脚：16pin
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芯片封装形式：QFP
芯片引脚：176pin
芯片引脚间距：0.4mm
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