LCC146pin-1.0mm-35x44mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

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LCC146pin-1.0mm-35x44mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

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LCC146pin-1.0mm-35x44mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座

LCC146pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
制作方式：加工定制
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：146pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：35*44mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LCC146pin-1.0mm-35x44mm合金旋钮翻盖探针芯片测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC146pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC146pin芯片测试座产品简介：

芯片测试频率：5Ghz

芯片测试电流：1A

芯片测试温度：-40°~+125°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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