LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座

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LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座

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LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座

LTM4644电源芯片BGA77pin老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
电源芯片封装形式：BGA
电源芯片引脚：77pin
电源芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：15*9mm

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产品详情

鸿怡电子生产定制的LTM4644电源芯片BGA77pin-1.27mm-15x9mm塑胶翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用电源芯片BGA77pin测试环境：老化、测试、烧录

LTM4644电源芯片BGA77pin老化座产品简介：

电源芯片测试电流：2A

芯片测试频率：1Ghz

芯片测试温度：-60°~155°

芯片测试座结构：翻盖式

芯片测试座材料：塑胶

IC老炼座

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电源芯片老化座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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