PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座

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PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座

LCC28pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：6.5*6.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的PLCC28pin-0.6mm-6.5x6.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用LCC28pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

LCC28pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：1A

芯片测试频率：600Mhz

芯片测试温度：有高低温测试，-55°~+155°

芯片测试socket结构：翻盖式

芯片测试夹具测材料：合金

IC测试座

芯片测试座

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LCC芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
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接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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