QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

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QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

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QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）

QFN16pin芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：3*3mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN16pin-0.5mm-3X3mm芯片老化测试座（带顶针）的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介：

产品用途：编程座、测试座、老化座，对QFN16的IC芯片进行烧写、测试、老化

QFN16-0.5 新结构老化测试座-带顶针）

芯片老化测试温度：-40°~+125°

老化座结构：翻盖式

老化座材料：塑胶

探针结构：弹片针

IC老炼座

IC老化测试夹具

QFN老化座

QFN老化测试夹具

鸿怡电子 IC测试座芯片测试座 IC测试夹具治具 QFN芯片测试座 QFN芯片老化座 QFN芯片烧录座

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芯片封装形式：QFN
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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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