QFN28pin-0.4mm-3.5*3.5mm-0141-PGL塑胶翻盖探针老化座sokcet—QFN芯片老炼夹具

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QFN28pin-0.4mm-3.5*3.5mm-0141-PGL塑胶翻盖探针老化座sokcet—QFN芯片老炼夹具

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QFN28pin-0.4mm-3.5*3.5mm-0141-PGL塑胶翻盖探针老化座sokcet—QFN芯片老炼夹具

QFN28pin芯片老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3.5*3.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN28pin-0.4mm-3.5*3.5mm-0141-PGL塑胶翻盖探针老化座sokcet—QFN芯片老炼夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN28pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN28pin芯片老化测试座产品简介：

芯片测试频率：9.2Mhz

芯片测试电流：300mA

芯片老化测试要求：-45°~+135°，持续时长：1000小时

QFN芯片老炼夹具结构：翻盖式

芯片老化测试座材料：PEI

IC老化座

IC老炼座

QFN芯片老炼socket

QFN芯片老化座

芯片老炼夹具

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芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：10*10mm
接触介质：弹片
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式;BGA
芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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