QFN32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座

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QFN32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座

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QFN32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座

QFN32pin芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：0.5*0.5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

QFN芯片老化座、QFN芯片烧录座、QFN芯片测试座

产品简介：

适用于QFN芯片老化测试、烧录、测试

芯片测试电压：6V

芯片测试电流：100mA

芯片测试频率：72Mhz

测试座结构：翻盖式

测试座材料：塑胶

IC老化测试座

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QFN芯片老化测试座

QFN老化座

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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