QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

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QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

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QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN40pin-0.5mm-6*6mm芯片翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适配芯片测试环境：芯片老化、测试、烧录

产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+155°，芯片老化持续测试时长：1000小时

芯片测试电流：1A以内

芯片测试频率：1Ghz

老化座结构：翻盖式

老化座材料：塑胶

IC老炼座

芯片老化座

QFN芯片老化座

QFN芯片老化测试夹具

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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