QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座

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QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座

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QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座

QFN48pin芯片测试座socket规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：6*6mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN48pin芯片测试环境：老化、测试、烧录

QFN48pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：平均<1mA/pin

芯片测试电压：3.3V

芯片测试频率：100Mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座socket结构：翻盖式，需要架散热块

芯片测试夹具材料：合金

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芯片封装形式：WLCSP
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.2mm
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芯片封装形式：QFP
芯片引脚：176pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：22*22mm

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