QFN48pin翻盖老化测试座

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QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座

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QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座

QFN48pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：16.7*16.7mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN48pin-1.0mm-16.7x16.7mm翻盖老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

该款QFN芯片老化座适用环境：老化、测试、烧录

适用老化测试温度：-45°~+155°

老化测试结构：翻盖式

老化座材料：塑胶

联系客服可提供详细的图纸资料

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
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适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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