QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座

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QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座

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QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座

QFN56pin芯片老化座规格尺寸：
型号:QFN-56-0.35
引脚间距(mm): 0.35
脚位:56pin
适配芯片尺寸:6*6 mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产的QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

产品简介

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试

适用封装:QFN56引脚间距0.35mm

测试座:QFN56-0.35

特点:采用新开模弹片，接触更稳定，寿命更长。批量出货交期短、可耐高低温！

QFN56pin芯片老化座

QFN芯片老化座

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QFN芯片老化测试socket

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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