QFN56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座

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QFN56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座

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QFN56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座

QFN56pin芯片测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：56pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：5*5mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN56pin-0.4mm-7×7mm合金翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFN56pin芯片测试环境老化、测试、烧录

QFN56pin芯片测试座产品简介：

芯片测试电流：小于500mA

芯片测试频率：2Ghz

芯片测试温度：-45°~+155°

芯片测试结构：翻盖式

芯片测试材料：合金

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QFN芯片测试座

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芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：4*4mm
接触介质：探针
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

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芯片引脚：30pin
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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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