鸿怡电子生产定制的QFN8pin-1.27mm-5x5x1.7mm合金翻盖芯片测试夹具的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用QFN8pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
支持封装类型:QFN8/16-DFN8/16-WSON8/16
QFN8pin芯片测试座产品简介:
芯片测试电流:500mA
芯片测试温度:-45°~+125°
芯片测试频率:150Mhz
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金