QFP64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座

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QFP64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座

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QFP64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座

QFP64pin芯片老化测试夹具规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFP/OTQ
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：12*12mm

订购热线：13631538587

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产品详情

鸿怡电子生产定制的QFP64pin-0.5mm12x12mm芯片探针老化座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用QFP64pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片HAST测试

QFP64pin芯片老化测试座产品简介：

芯片老化测试温度：-45°~+155°，老化时长满足单次1000hrs

相对湿度：85%

芯片老化夹具结构：翻盖式

芯片老化座材料：合金

IC老化座

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QFP芯片老化夹具

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芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK

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